HAST老化试验箱是一种用于模拟加速老化环境的实验室设备

　　HAST老化试验箱(Highly Accelerated Stress Test Chamber)是一种用于模拟加速老化环境的实验室设备，广泛应用于电子元器件、半导体芯片、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关产品的加速老化寿命试验，通过模拟高温、高湿和高压(有时还包括偏置电压)的特殊环境，加速被测样品的老化过程，以在短时间内评估其性能和耐久性。这种测试方法能够模拟产品在长时间使用中的老化情况，帮助生产商提高产品的质量和可靠性。
 

　　压力范围：在受控的压力容器内增加大气压力，通常可达到3atm或更高，以实现超过100℃的温湿度控制。这种压力的增加可以加速温湿度对材料的老化效果。
 

　　偏置电压(bHAST)：在某些试验中，除了高温、高湿和高压条件外，还会对样品施加偏置电压，模拟实际使用中的电应力。
 

　　HAST老化试验箱特点：
 

　　优化设计：美观大方，做工精细，符合工业安全标准。
 

　　准确控制：采用控制器和传感器，实现温度、湿度和压力的准确控制。
 

　　高效循环：采用风叶强制对流循环方式，确保箱内温湿度均匀分布。
 

　　安全保护：具备超温、超压、缺水等多种安全保护措施，确保试验过程安全可靠。
 

　　灵活定制：可根据客户需求定制专用产品架和试验参数，满足不同产品的测试需求。

 

　　HAST老化试验箱的使用过程：
 

　　准备阶段：将试验箱放置在安全稳定的台面上，接通电源并打开电源开关。
 

　　设置参数：根据需要设置试验参数，如温度、湿度、工作时间等。
 

　　放置样品：打开试验箱门，将待测试的样品放入箱内，并确保样品之间有足够的间隔。
 

　　开始试验：关闭试验箱门并启动试验程序，试验箱将按照设定的参数开始工作。
 

　　监测试验：在试验过程中定期检查试验箱的工作状态和数据记录情况。
 

　　结束试验：当试验时间到达设定值后，试验箱将自动停止工作。此时可以打开试验箱门取出样品并进行后续处理。
 

　　使用注意事项：
 

　　确保试验箱周围的通风良好以防止过热或氧气不足。
 

　　遵守安全操作规程以避免触电或烫伤等安全事故的发生。
 

　　定期检查和维护试验箱以确保其正常运行和延长使用寿命。
 

　　在试验过程中注意观察和记录数据以便后续分析和改进。